JIACO Instruments

Over JIACO Instruments

Het bedrijf is in 2014 opgericht door twee wetenschappers van de Delft University of Technology in Nederland. JIACO heeft de Microwave Induced Plasma (MIP) decapsulatietechnologie uitgevonden, die voordelen biedt zoals een hoge etingsselectiviteit, geen etschade en het behoud van de functionaliteit van componenten en de oorspronkelijke foutlocaties. Deze technologie wordt breed toegepast binnen de halfgeleiderfoutanalyse en betrouwbaarheidstesten. De gepatenteerde MIP-technologie biedt niet-destructieve decapsulatie die de integriteit van koper- en zilverdraden behoudt en is erkend door de JEDEC-standaard JESD22-B120. Het bedrijf biedt geautomatiseerde MIP IC-decapsulatie bij atmosferische druk aan, gebruikmakend van zuurstof en gepatenteerde waterstofgebaseerde recepten. Met MIP+ wordt de capaciteit van MIP uitgebreid van etsen op pakketniveau naar etsen op die-niveau.

Deze omschrijving is door AI geschreven.

Trefwoorden

• 3D Stacked Die Package Decapsulation
• Advanced Ic Package Decapsulation
• Ag, Cu, Pdcu, Au Wire Decapsulation
• Copper Wire Decapsulation
• Eos Exposure
• Led Package Decapsulation
• O2 Only Plasma Decapsulation
• Plasma Decapsulation Systems
• Saw Baw Filter Decapsulation
• Silver Wire Decapsulation
• Sip & Module Decapsulation
• Thermally Stressed Package Decapsulation
• Underfill , Fow, Die Attach Etching

Team per functiegebied

Gebaseerd op 11 openbare functieprofielen, stand van 19 september 2026.

• Engineering / Software Development3
• Executive / C-Suite1
• Founder / Owner1
• Marketing1
• Operations1
• Other / Unclassifiable1
• Public Sector / Government1
• Research / R&D1
• Sales1